當(dāng)前位置:首頁(yè) > 產(chǎn)品中心 > 冷熱沖擊箱 > 可程式冷熱沖擊試驗(yàn)機(jī) > 3AP-CJ-80A可程式冷熱沖擊試驗(yàn)機(jī)
簡(jiǎn)要描述:可程式冷熱沖擊試驗(yàn)機(jī)為非防爆產(chǎn)品提供做試驗(yàn),請(qǐng)不要在有可燃或爆炸性氣體的壞境中使用。為了防止觸電或產(chǎn)生誤動(dòng)作和故障,在安裝和接線結(jié)束之前,請(qǐng)不要接通試驗(yàn)箱電源。
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價(jià)格區(qū)間 | 10萬(wàn)-20萬(wàn) | 產(chǎn)地類(lèi)別 | 國(guó)產(chǎn) |
---|---|---|---|
應(yīng)用領(lǐng)域 | 能源,建材,電子,印刷包裝 |
一、可程式冷熱沖擊試驗(yàn)機(jī)產(chǎn)品名稱(chēng)三箱冷熱沖擊試驗(yàn)機(jī)(風(fēng)冷式)
二、產(chǎn)品型號(hào)3AP-CJ-80A
三、設(shè)備用途:廣泛用于電子電器零組件塑膠等行業(yè)、自動(dòng)化零部件、通訊組件、汽車(chē)配件、金屬、化學(xué)材料、塑料等行業(yè),國(guó)防工業(yè)、航天、兵工業(yè)、BGA、PCB基扳、電子芯片IC、半導(dǎo)體陶磁及高分子材料之物理性變化進(jìn)行試驗(yàn),用來(lái)測(cè)試材料結(jié)構(gòu)或復(fù)合材料,在瞬間下經(jīng)*溫及極低溫的連續(xù)環(huán)境下所能忍受的程度,藉以在最短時(shí)間內(nèi)試驗(yàn)其熱脹冷縮所引起的化學(xué)變化或物理變化。
四、是光電、金屬、光伏、塑料、硅膠、電器、橡膠、電子等工作材料或者工業(yè)行業(yè)的試驗(yàn)設(shè)備。
五、有以下優(yōu)勢(shì):
1.采用微電腦大型液晶LCD觸摸屏中英文可隨意切換顯示的控制器作為主要系統(tǒng)。
2.此試驗(yàn)設(shè)備的箱體分為三部分,分別為低溫儲(chǔ)蓄冷量區(qū)(冷沖擊時(shí)用),高溫儲(chǔ)蓄熱量區(qū)(熱沖擊時(shí)用),產(chǎn)品測(cè)試擺放區(qū)(冷熱沖擊試驗(yàn)時(shí)用),測(cè)試產(chǎn)品*靜止的擺放在產(chǎn)品測(cè)試擺放區(qū)的隔層架上,通過(guò)控制器指令把冷溫或者熱溫通過(guò)氣體找開(kāi)閥門(mén)快速灌進(jìn)來(lái)從而達(dá)到?jīng)_擊的目的。
3.此試驗(yàn)設(shè)備還可設(shè)定高溫、低溫及高低溫沖擊三種不同試驗(yàn)條件的功能做測(cè)試,執(zhí)行高低溫沖擊或才冷熱沖擊條件時(shí),可選擇兩箱式或三箱式的結(jié)構(gòu),除了可以做快速?zèng)_擊試驗(yàn)效果外還并具有高低溫試驗(yàn)箱的普通功能。
4.高程序記憶容量,可設(shè)定儲(chǔ)存100組程序。
5.具有RS-232C通信接口裝置,還可以加配USB直接用U盤(pán)導(dǎo)出測(cè)試數(shù)據(jù),使用便捷。
6.冷熱沖擊試驗(yàn)設(shè)備故障時(shí),配有自動(dòng)機(jī)回路及警示訊號(hào)。發(fā)現(xiàn)輸入電力不穩(wěn)定時(shí),具有緊急停機(jī)裝置。
7.具備全自動(dòng),高精度系統(tǒng)回路,任一機(jī)件動(dòng)作,*由P.L.C.鎖定處理。
六、容積、尺寸和重量
6.1.內(nèi)容積80L
6.2.內(nèi)箱尺寸400*500*400mm (W* H *D)
6.3.外型尺寸(約)1550*1850*1600mm (W* H *D)
6.4.重 量約900㎏
七、可程式冷熱沖擊試驗(yàn)機(jī)性能指標(biāo)
7.1.測(cè)試環(huán)境條件機(jī)器周?chē)h(huán)境溫度維持在+25~+30℃之間,相對(duì)濕度:≤85%;氣壓:86kPa~106kPa正常大氣壓力。
7.2.滿足標(biāo)準(zhǔn) .GB/T2423.1-2008 低溫試驗(yàn)方法Test method of low tempemture test
·GB/T2423.2-2008 高溫試驗(yàn)方法Test method of high temperature test
·GB/T2423.22-2012 溫度變化試驗(yàn)Test of temperature chantge
·GJB150.5-86溫度沖擊試驗(yàn)Test of temperature shock
·GJB360.7-87溫度沖擊試驗(yàn)Test of temperature shock
·GJB367.2-87溫度沖擊試驗(yàn)Test of temperature shock
·QC/T17-92、EIA364-32、IEC68-2-14等
7.3.測(cè)試室溫度范圍-40℃~+150 ℃ (風(fēng)冷式)
7.3.1.低溫沖擊范圍-10℃~-40 ℃
7.3.2.高溫沖擊范圍60℃~150 ℃
7.4.高溫室
7.4.1.預(yù)熱溫度范圍RT~+165℃
7.4.2.升溫時(shí)間
+50℃→+165 ≤30min
注:升溫時(shí)間為高溫室單獨(dú)運(yùn)轉(zhuǎn)時(shí)的性能
7.5.低溫室
7.5.1.預(yù)冷溫度范圍RT~-55℃
7.5.2.降溫時(shí)間+20℃ → -55℃≤約60min
注:降溫時(shí)間為低溫室單獨(dú)運(yùn)轉(zhuǎn)時(shí)的性能
7.6.試驗(yàn)室(試樣區(qū))
7.6.1.試驗(yàn)方式采用*之蓄熱、蓄冷結(jié)構(gòu),強(qiáng)制冷熱風(fēng)路切換方式導(dǎo)入測(cè)試區(qū),沖擊時(shí)高溫區(qū)或低溫區(qū)的溫度沖入測(cè)試區(qū)進(jìn)行沖擊,冷熱溫度沖擊測(cè)試。
7.6.2.溫度波動(dòng)度±0.5℃
7.6.3.溫度偏差±2.0℃
7.6.5.溫度恢復(fù)時(shí)間3~5min;轉(zhuǎn)換溫度只需要≤10s(風(fēng)門(mén)開(kāi)啟時(shí)間:5秒以?xún)?nèi))
7.7.沖擊暴露時(shí)間≥30min。
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